Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductors

Uue termini lisamine

Contributors in Test equipment

Become a Contributors

Test equipment

X.25

Semiconductors; Test equipment

CCIT standard, mis kirjeldab, kuidas lülitada pakettandmeside võrgus töötleb andmeid.

Guard band

Semiconductors; Test equipment

1. (device testing) kohandus a DUT katse spetsifikaadi võetakse arvesse testisüsteemi täpsuse, korratavuse, ja korrelatsiooni.

link

Semiconductors; Test equipment

1. (scan) andmed söödetud skannimine pin üks skaneerida kella tsükkel Ñ skannimine samaväärne paralleelselt vektor.

vektori

Semiconductors; Test equipment

1. A paralleelselt vektor on rakendatud ka DUT ajal ühe kella tsükkel funktsionaalne loogika.

"Post-silicon" protsessi, et tõestada (tõendid) disainilahenduse kehtivuse. Meie eesmärkidel valideerimine on eriotstarbelised katse riistvara tõestada, et toode vastab projekteerimise kavatsuste; ...

monotonicity

Semiconductors; Test equipment

Iseloomulik korralikult tegutseva DAC, mis on analoogne väljund suureneb kui digitaalne kood sisestada sellele suureneb.

DUT kinnistumine

Semiconductors; Test equipment

Trükkplaat, mis liidesed katse pea seade-all-test (DUT) sokkel, sondi kaardi või seadme ohjuri konnektor. On padjad vanemtüürimehe koos pogo viiku pin-rühm kaarte katse peas ja sisaldab võimu ...